氣動(dòng)元件進(jìn)口高低溫濕熱試驗(yàn)箱的用途：

氣動(dòng)元件進(jìn)口高低溫濕熱試驗(yàn)箱主要是針對(duì)于電工、電子產(chǎn)品，以及其原器件，及其它材料在高溫、低溫、濕熱及其循環(huán)變化的環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)。

氣動(dòng)元件進(jìn)口高低溫濕熱試驗(yàn)箱主要用于對(duì)產(chǎn)品按照標(biāo)準(zhǔn)要求或用戶(hù)自定要求，在低溫、高溫、高溫高濕及其循環(huán)變化條件下，對(duì)產(chǎn)品的物理以及其他相關(guān)特性進(jìn)行環(huán)境模擬測(cè)試，測(cè)試后，通過(guò)檢測(cè)，來(lái)判斷產(chǎn)品的性能，是否仍然能夠符合預(yù)定要求，以便供產(chǎn)品設(shè)計(jì)、改進(jìn)、鑒定及出廠(chǎng)檢驗(yàn)用。

氣動(dòng)元件進(jìn)口高低溫濕熱試驗(yàn)箱規(guī)格與型號(hào)：

型號(hào):TH-80工作室尺寸W×H×D:400×450×400

型號(hào):TH-150工作室尺寸W×H×D:500×600×500

型號(hào):TH-225工作室尺寸W×H×D:600×750×500

型號(hào):TH-408工作室尺寸W×H×D:600×850×800

型號(hào):TH-800工作室尺寸W×H×D:1000×1000×800

型號(hào):TH-1000工作室尺寸W×H×D:1000×1000×1000

氣動(dòng)元件進(jìn)口高低溫濕熱試驗(yàn)箱 特點(diǎn)： 

內(nèi)膽全不銹鋼結(jié)構(gòu)，設(shè)有觀察窗（出口型試驗(yàn)箱門(mén)內(nèi)側(cè)還有一道超厚玻璃門(mén)）、進(jìn)口全封閉法國(guó)泰康壓縮機(jī)、控制為美國(guó)TINKO數(shù)顯儀表，具有程序編寫(xiě)和控制\PID自動(dòng)跟蹤檢索整定功能。 

氣動(dòng)元件進(jìn)口高低溫濕熱試驗(yàn)箱執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)：  

GB10589氣動(dòng)元件進(jìn)口高低溫濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件 

GB11158高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件   

氣動(dòng)元件進(jìn)口高低溫濕熱試驗(yàn)箱的詳細(xì)資料:設(shè)備適用于產(chǎn)品在低溫環(huán)境下檢測(cè)其各項(xiàng)性能指標(biāo)。  

氣動(dòng)元件進(jìn)口高低溫濕熱試驗(yàn)箱箱體結(jié)構(gòu)特點(diǎn)  

箱體采用數(shù)控機(jī)床加工成型，造型美觀大方，并采用無(wú)反作用把手，操作簡(jiǎn)便。  

箱體內(nèi)膽采用進(jìn)口不銹鋼板和鏡面板，箱體外殼采用A3鋼板噴塑，增加了外觀質(zhì)感和潔凈度。  

大型觀測(cè)視窗附照明燈保持箱內(nèi)明亮，三層中空鋼化玻璃，隨時(shí)清晰的觀測(cè)箱內(nèi)狀況。  

箱體左側(cè)配直徑50mm的測(cè)試孔，可供外接測(cè)試電源線(xiàn)或信號(hào)線(xiàn)使用。 

氣動(dòng)元件進(jìn)口高低溫濕熱試驗(yàn)箱控制器  

溫度控制采用全進(jìn)口按鍵式儀表，操作設(shè)定簡(jiǎn)單。  

根據(jù)不同的試驗(yàn)要求，可以選擇定值試驗(yàn)功能，也可以選擇可編程控制功能。  

具有P.I.D自動(dòng)演算的功能，可將溫度變化條件立即修正，使溫度控制更為精確穩(wěn)定。  

可選配打印機(jī)。  

氣動(dòng)元件進(jìn)口高低溫濕熱試驗(yàn)箱冷凍及風(fēng)路循環(huán)系統(tǒng)  

制冷機(jī)采用法國(guó)原裝“泰康”或者“谷輪”制冷系統(tǒng)。冷凍系統(tǒng)采用單元或二元式低溫回路系統(tǒng)設(shè)計(jì)。采用多翼式送風(fēng)機(jī)強(qiáng)力送風(fēng)循環(huán)，避免任何死角，可使測(cè)試區(qū)域內(nèi)溫度分布均勻。風(fēng)路循環(huán)出風(fēng)回風(fēng)設(shè)計(jì)，風(fēng)壓、風(fēng)速均符合測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)，并可使開(kāi)門(mén)瞬間溫度回穩(wěn)時(shí)間快。升溫、降溫、系統(tǒng)*獨(dú)立可提高效率，降低測(cè)試成本，增長(zhǎng)壽命，減低故障率。  

符合標(biāo)準(zhǔn):GB/T2423.1-2001 GB/T2423.2-2001

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