解析冷熱沖擊試驗(yàn)箱所能滿(mǎn)足的標(biāo)準(zhǔn) 

    冷熱沖擊試驗(yàn)箱金屬、塑料、橡膠、電子等材料行業(yè)*的測(cè)試設(shè)備， 用于測(cè)試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料，在瞬間下經(jīng)*溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，得以在短時(shí)間內(nèi)檢測(cè)試樣因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。接下來(lái)我公司便講解冷熱沖擊試驗(yàn)箱能滿(mǎn)足哪些標(biāo)準(zhǔn)，希望對(duì)廣大客戶(hù)有所幫助。

    冷熱沖擊試驗(yàn)箱所能滿(mǎn)足的標(biāo)準(zhǔn)如下：

    性能指標(biāo)符合GB5170、2、3、5、6-95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法低溫、高溫、恒定濕熱、交變濕熱試驗(yàn)設(shè)備》的要求

    電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法GB 2423.1-89 （IEC68-2-1）

    電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法GB 2423.2-89 （IEC68-2-2）

    電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Ca：恒定濕熱試驗(yàn)方法GB/T 2423.3-93（IEC68-2-3）

    電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Da：交變濕熱試驗(yàn)方法GB/T423.4-93（IEC68-2-30）

    GJB150.3（ML-STD0-810D）高溫試驗(yàn)方法 GJB150.4（MIL-STD-810D）低溫試驗(yàn)方法

    GJB150.9-1986《軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法：濕熱試驗(yàn)》 GJB4.5-1983《船舶電子設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)恒定濕熱試驗(yàn)》 GJB4.6-1983《船舶電子設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)交變濕熱試驗(yàn)》

    GJB367.2-1987《軍用通信設(shè)備通用技術(shù)條件環(huán)境試驗(yàn)方法》411 濕熱試驗(yàn) GJB360.8-87（MIL-STD-202f）高溫壽命試驗(yàn) GB/T5170.2-96《溫度試驗(yàn)設(shè)備》 GB/T5170.5-96《濕熱試驗(yàn)設(shè)備》 GB10592-93《高、低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》 GB10586-93《濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件》。

     以上是艾思荔生產(chǎn)的冷熱沖擊試驗(yàn)箱滿(mǎn)足的各種模擬環(huán)境試驗(yàn)的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)，如果你需要滿(mǎn)足以上測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)的冷熱沖擊試驗(yàn)箱、恒溫恒濕試驗(yàn)箱、高低溫濕熱交變?cè)囼?yàn)箱等測(cè)試設(shè)備，請(qǐng)艾思荔。